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Untersuchung der Zuverlässigkeit nanoskaliger Oxidschichten in Leistungshalbleitern für kosmische Strahlung durch Protonen- und Neutronenbestrahlung

Investigation of cosmic ray reliability of nanoscale oxide layers in power semiconductors by Proton and Neutron irradiation

Étude de la fiabilité de couches d’oxyde nanométriques dans des semi-conducteurs de puissance soumis à un rayonnement cosmique par irradiation de protons et de neutrons

Investigation of residual stresses in bulk single crystals for piezoelectric sensors using Neutron Diffraction

Untersuchung von Eigenspannungen in massiven Einkristallen für piezoelektrische Sensoren mittels Neutronendiffraktion

Étude des contraintes résiduelles dans des monocristaux massifs pour capteurs piézoélectriques au moyen de la diffraction neutronique

Investigation of prefillable syringes by Neutron & Synchrotron imaging

Étude de seringues pré-remplissables par imagerie neutronique et synchrotron

Untersuchung von vorfüllbaren Spritzen mittels Neutronen- und Synchrotronbildgebung