Probenvorbereitung und Vor-/Nachcharakterisierung
Probenvorbereitung und Vor-/Nachcharakterisierung - Zur Unterstützung unserer analytischen Dienstleistungen
Für einige unserer analytischen Dienstleistungen müssen die Proben speziell vorbereitet werden. Wir verwenden verschiedene Arten der Probenvorbereitung, wie z.B. Schneiden, Polieren und Wärmebehandeln, um nur einige zu nennen.
Wir bieten auch Vor-/Nachcharakterisierung mit unterschiedlichsten Mikroskoptypen des Swiss Nanoscience Institute (SNI) an, um unsere analytischen Dienstleistungen mit Neutronen- und Synchrotronstrahlung zu unterstützen und zu ergänzen.
Auswahl der verfügbaren Ausrüstung für die Probenvorbereitung und die Vor-/Nachcharakterisierung:
Auswahl an Schneidemaschinen
- Funkenerosive Bearbeitung
- Trennen mit Kreissägen
- Drahtschneiden
Auswahl an Polierausrüstung
- Mechanisches Polieren bis zur OPS-Aufhängung
- VibroMet
- Elektropolieren für SEM- und TEM-Proben
- Ionen-Fräsen
Elektronenmikroskopie
- REM mit verschiedenen Detektoren (SE, In-Linse, BSE und EDAX) zur Untersuchung verschiedener Oberflächen und Strukturen sowie Elementanalyse
- FIB für die Abscheidung und Ablation eines bestimmten Bereichs von Interesse in der Probe
- Umgebungs-SEM für nasse und unbeschichtete, nicht leitende Proben
- TEM zur Untersuchung von Strukturen von Proben mit hoher Auflösung
Rasterkraftmikroskope
- Kontakt- und kontaktlose Modi
- Klopf- und Hubmodi
- Phasenbildgebung
- Lateralkraftmikroskopie
Licht- und Rasterlasermikroskope
- Verschiedene Lichtmikroskope
- 3D-Rasterlasermikroskope zur Erzeugen von 3D Oberflächenprofilen