Caractérisation structurelle et chimique des échantillons minéraux

Notre diffraction des rayons X synchrotron (XRD) convient à l’analyse d’un large éventail de matériaux minéralogiques, en particulier lorsqu’une résolution de crête élevée, une sensibilité aux différences cristallographiques subtiles et un débit élevé d’échantillons sont nécessaires. La brillance élevée et la longueur d’onde réglable du rayonnement synchrotron permettent une identification précise des phases et une analyse quantitative dans des échantillons complexes, multiphases ou à grain fin, y compris ceux présentant une faible cristallinité ou des pics de diffraction qui se chevauchent.

Notre fluorescence des rayons X synchrotron (XRF) se prête à l’analyse élémentaire d’un large éventail de matériaux minéralogiques, en particulier lorsqu’une haute sensibilité, des informations chimiques à résolution spatiale et une collecte rapide des données sont nécessaires. La brillance élevée du rayonnement synchrotron permet de détecter les éléments principaux, secondaires et à l’état de traces sur une large gamme de numéros atomiques, même dans des échantillons de petite taille, hétérogènes ou complexes.

Une analyse précise des phases dans les minéraux peut être réalisée grâce à la conduite d’un affinement de Rietveld des diagrammes de diffraction obtenus à l’aide de la technique XRD synchrotron. Cette méthode permet de déterminer l’identité, la quantité et la structure cristallographique des différents composants minéraux d’un échantillon.
 

Lorsqu’un minéral est irradié par des rayons X, les atomes de l’échantillon sont stimulés et émettent des rayons X fluorescents caractéristiques dont les énergies sont propres à chaque élément. La mesure des énergies de ces photons émis permet d’identifier clairement les éléments, leur intensité étant proportionnelle à la concentration des éléments.