Préparation des échantillons et caractérisation préliminaire/ultérieure

Préparation des échantillons et caractérisation préliminaire/ultérieure - Pour accompagner nos prestations d’analyses

Pour certaines de nos prestations d’analyses, les échantillons doivent faire l’objet d’une préparation spéciale. Nous utilisons différents types de préparation d’échantillons, par ex., entre autres, la découpe, le polissage et le traitement thermique.

Nous proposons également une caractérisation préliminaire/ultérieure avec différents types de microscopes du Swiss Nanoscience Institute (SNI), pour accompagner et compléter nos prestations d’analyses avec le rayonnement neutronique et synchrotron.

Sélection des équipements disponibles pour la préparation d’échantillons et la caractérisation préliminaire/ultérieure:

ANAXAM-Cutting-machine-700px-digitalution

Sélection de machines de découpe

Traitement par électro-érosion
Découpe avec scies circulaires
Découpe de fil

ANAXAM-Polishing-equipment-700px-digitalution

Sélection d’équipements de polissage

Polissage mécanique jusqu’à suspension OPS
VibroMet
Polissage électrolytique pour échantillons SEM et TEM
Fraisage ionique

ANAXAM-Electron-Microscopes-700px-digitalution

Microscopie électronique

REM avec différents détecteurs (SE, lentille In, BSE et EDAX) pour examiner différentes surfaces et structures et analyser des éléments
FIB pour le dépôt et l’ablation d’une certaine zone d’intérêt dans l’échantillon
SEM environnemental pour échantillons humides et non recouverts, non conducteurs
TEM pour l’examen de structures d’échantillons avec résolution élevée